涂镀层测厚仪的原理及应用

涂层测厚仪又称涂层测厚仪。其原理如下：
磁性测厚原理：当探头与涂层接触时，霍尔发现电位差UH与电流强度IH成正比，探头与磁性金属基体形成闭合磁路。由于非磁性覆盖层的存在，磁路的磁阻发生变化，与磁感应强度B成正比。当探头与覆盖层接触时，金属上会产生涡流基板，与厚度 d 成反比。覆盖层的厚度可以通过测量其变化来计算。
涡流测厚原理：利用高频交流电在线圈中产生电磁场，采用磁性测厚法无损测量磁性金属上非磁性涂层的厚度，而现在又出现了一种新型的涂层测厚仪，那就是涂层测厚仪，它采用了最新的磁感应技术。又称霍尔效应，是霍尔于1879年发现的。涡流法可以无损地测量磁性金属基板上非导电层的厚度。通过研究霍尔电压与工作电流的关系，测量电磁铁的磁导率，研究霍尔电压与磁场的关系，涂层测厚仪又称涂层测厚仪、薄膜测厚仪、和一个涂层量规。采用磁测厚和涡流测厚原理。
涂层测厚仪按测量原理一般有以下五种方法：
1、磁性测厚法：适用于导磁材料上非磁性层的厚度测量。导磁材料一般为：钢、银、镍。该方法测量精度高
2、涡流测厚法：适用于导电金属上非导电层的厚度测量。
3、超声波测厚法：目前国内还没有采用这种方法测量镀层的厚度。国外一些厂家有这样的仪器，适用于多层镀层厚度的测量或以上两种方法都无法测量。场合。但一般价格昂贵，如200超声波涂层测厚仪专用于测量非金属基材上的涂层。
4、电解测厚法：此法不同于以上三种方法。不属于无损检测，需要破坏镀层。一般准确率不高。它比其他类型的测量更麻烦。
5、辐射测厚仪：这种仪器很贵（一般在10万人民币以上），适用于在一些特殊的场合。