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硅材料复合测试仪|SZT-5|
硅材料复合测试仪|SZT-5|

产品型号: SZT-5-

所属分类:测试仪

产品时间:2024-07-31

简要描述:硅材料复合测试仪|SZT-5|
SZT-4硅材料复合测试仪,是由二种硅材料测试仪器组合而成的
二量程的电阻测量仪器,配以手持式四针测试头或座式测试架,可用来测量片状,柱状,或块状,电阻率

详情介绍

硅材料复合测试仪|SZT-5|

硅材料复合测试仪

,概述;

SZT-4硅材料复合测试仪,是由二种硅材料测试仪器组合而成的

1,二量程的电阻测量仪器,配以手持式四针测试头或座式测试架,可用来测量片状,柱状,或块状,电阻率

0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整,可以对某些测量结果进行修整,例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数,对硅材料薄层扩散和导电薄膜“方块电阻“的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。

SZT4数字式四探针测试仪,体形小巧,操作方便,量程适中,十分适於对重炼回料的分选。

2,整流法硅材料P-N极性判别仪,配有三针手持式探头,能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行极性判别

本仪器工作环境条件为:

  温  度:18℃―25

相对湿度:50%70%

工作室内应无强电场干扰,不与高频设备共用电源。

二,技术参数

1,测量范围

1)电阻率测量:

0.01-200Ω-cm

2,数字电压表

(1): 200mV单一量程

(2):读数±0.2%±3

(3)输入电阻: >10MΩ

3,

(1)电流输出0~10mA连续可调

(2)1mA, 10mA

(3)±0.2%±3,

4,手持式四探针测试头

(a):: 1mm

(b)探针机械游移率:±1.0%

(c):碳化钨,φ0.

(d)压力:zui大2Kg

2)导电类型判别:

可对电阻率为1000-.0.01欧姆/厘米的硅材料作导电类型测定,同时可以声,光报警方式表示被测材料属于"重掺"

方块电阻0.01-200Ω-

0.01-200.0Ω

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